높은 신뢰성 설계
N68000 시리즈는 포괄적인 MOS 보호 회로를 갖추고 있습니다. MOS가 아무리 손상되어도 양극과 음극 또는 양극과 제어 회로 사이에 단락이 발생하지 않습니다. 일부 MOS의 손상은 다른 MOS의 손상을 가속화하지 않으므로 지속적으로 사용할 수 있습니다. 분산 설계로 전원 모듈을 쉽게 교체하거나 추가할 수 있으며 유지 관리 및 전원 확장에 편리합니다. N68000은 전력 제한 회로로 설계되었으며 응답 속도가 빠르므로 과전력으로 인해 부하가 손상되는 것을 방지할 수 있습니다. N68000은 차폐 기술을 채택하여 혹독한 테스트 환경에 광범위하게 적응하고 간섭 방지 능력을 향상시킵니다.
단락기능
N68000 시리즈는 수동 및 잠금의 두 가지 단락 모드를 지원합니다.
수동: N68000은 Short 버튼을 누르면 단락됩니다. 버튼을 놓으면 단락이 중단됩니다. 수동 모드는 디버깅이나 R&D에 적합하며 오작동으로 인한 측정 사고를 방지합니다.
잠금: N68000은 Short 버튼을 누르면 단락을 유지합니다. 버튼을 다시 누르면 단락을 멈춥니다. 잠금 모드는 장시간 단락 테스트에 적합합니다.
동적 모드
N68000 시리즈는 동적에 대해 연속, 토글 및 펄스의 세 가지 옵션을 제공합니다. 동적 속도는 최대 20kHz이며 조정 가능합니다. 이 기능은 종종 전원 공급 장치 과도 성능, 배터리 보호 보드 보호 성능 및 배터리 펄스 충전을 테스트하는 데 사용됩니다.
과도 전력 부하 용량
과도 고전력 애플리케이션에서 사용자는 최대 전력에 따라 모델을 선택할 필요가 없습니다. 예를 들어 DC 모터 시동 시뮬레이션을 살펴보겠습니다. 시동 시 과도 전력은 일반적으로 정격 전력의 몇 배입니다. 또한 전원 공급 장치의 과도 과부하 성능과 전원 배터리의 과도 고전력 방전을 테스트할 수도 있습니다.
외부 프로그래밍
사용자는 외부 아날로그 입력을 통해 부하 전압 및 전류를 제어할 수 있습니다. 외부 프로그래밍 인터페이스를 통한 0~10V 입력은 부하의 0~전체 출력에 해당합니다.
현재 모니터링
전류 모니터링 출력 단자의 0-10V 아날로그 출력은 0-풀 스케일 전류에 해당합니다. 사용자는 전압계나 오실로스코프를 사용하여 전류 변화를 모니터링할 수 있습니다.
프로그래밍 가능한 슬루율
상승 및 하강 슬루율은 오버슈트를 방지하고 다양한 테스트 요구 사항을 충족하도록 설정할 수 있습니다. 변환 슬루율은 N68000의 부하 주 값이 변경될 때 전류 또는 전압 전환율을 정의합니다. 슬루가 최대 값으로 설정되면 주 값과 과도 값 사이의 전환 시간이 최소화됩니다.
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